Integrated Modeling of Chemical Mechanical Planarization for Sub-Micron IC Fabrication
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Produktnummer:
9783642061158
Autor: | Dornfeld, David A. Luo, Jianfeng |
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EAN: | 9783642061158 |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 336 |
Produktart: | kartoniert, broschiert |
Verlag: | Springer-Verlag GmbH Springer Berlin Heidelberg |
Veröffentlichungsdatum: | 15.12.2010 |
Untertitel: | From Particle Scale to Feature, Die and Wafer Scales |
Größe: | 19 × 155 × 235 |
Gewicht: | 511 g |