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Integrated Modeling of Chemical Mechanical Planarization for Sub-Micron IC Fabrication

David A. Dornfeld, Jianfeng Luo
Autor: Dornfeld, David A. Luo, Jianfeng
EAN: 9783642061158
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 336
Produktart: kartoniert, broschiert
Verlag: Springer-Verlag GmbH Springer Berlin Heidelberg
Veröffentlichungsdatum: 15.12.2010
Untertitel: From Particle Scale to Feature, Die and Wafer Scales
Größe: 19 × 155 × 235
Gewicht: 511 g

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