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Ihre Suche nach "Röntgenfotoelektronenspektroskopie (XPS)" ergab 4 Produkte
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Verlag
Wiley & Sons (4)
Autor
Crist, B. Vincent (2)
Watts, John F. (2)
Sprache
Englisch (4)
Erscheinungsdatum
Name A-Z
Name Z-A
Preis aufsteigend
Preis absteigend
Beste Ergebnisse
Topseller
B. Vincent Crist
Polymers and Polymers Damaged by X-rays
1.640,00 €*
inkl. MwSt, zzgl. Versand
John F. Watts, John Wolstenholme
An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
155,00 €*
inkl. MwSt, zzgl. Versand
B. Vincent Crist
Semiconductors
1.640,00 €*
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John F. Watts, John Wolstenholme
An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
89,90 €*
inkl. MwSt, zzgl. Versand
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