Zuverlässigkeit und Entwurf
| EAN: | 9783800731787 |
|---|---|
| Sprache: | Deutsch |
| Seitenzahl: | 176 |
| Produktart: | kartoniert, broschiert |
| Verlag: | VDE-Verlag |
| Veröffentlichungsdatum: | 07.10.2009 |
| Untertitel: | 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 21. bis 23. September 2009 in Stuttgart. Hrsg.: Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG), VDE/VDI-Gesellschaft Microelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik (GMM) |
| Schlagworte: | Mikroelektronik Nanoelektronik Schaltung Transistor |
| Größe: | 148 × 210 |
| Gewicht: | 494 g |
