Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
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Produktnummer:
9783658438203
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschließende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen.
| Autor: | Baumann, Peter |
|---|---|
| EAN: | 9783658438203 |
| Sprache: | Deutsch |
| Seitenzahl: | 251 |
| Produktart: | kartoniert, broschiert |
| Verlag: | Springer, Berlin Springer Fachmedien Wiesbaden Springer Vieweg |
| Untertitel: | Simulation mit PSPICE |
| Schlagworte: | Bipolartransistor Halbleiterbauelemente PSpice |
| Größe: | 239 × 170 × 15 |
| Gewicht: | 449 g |
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