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Experimentelle Techniken zur Materialcharakterisierung - Teil 1

Vanarajsinh Solanki, Abhay Dasadia, Pramita Mishra
Dieses Buch befasst sich mit verschiedenen Werkzeugen zur Materialcharakterisierung mit Schwerpunkt auf Morphologie/Topologie und strukturellen Eigenschaften der Materialien. Im Kapitel über die morphologischen Charakterisierungswerkzeuge werden vor allem das Transmissionselektronenmikroskop (TEM), das Rasterelektronenmikroskop (SEM) und das Rasterkraftmikroskop (AFM) besprochen, während das Kapitel über die strukturelle Charakterisierung die Details des Röntgendiffraktometers (XRD), der Neutronenbeugung, des Ramanmikroskops und der Elektronenstrahlbeugung (SAED) enthält. Hier haben wir unser Bestes gegeben, um jedes Detail der experimentellen Techniken zu erklären, was für neue Lernende sehr hilfreich sein wird.
Autor: Solanki, Vanarajsinh Dasadia, Abhay Mishra, Pramita
EAN: 9786204761404
Seitenzahl: 60
Produktart: kartoniert, broschiert
Verlag: Verlag Unser Wissen
Schlagworte: Technik experimentell Techniken
Größe: 150 × 220