Mikrostrukturelle Einflüsse auf das R-Kurvenverhalten bei Siliciumnitridkeramiken
In dieser Arbeit wurden Risswiderstandskurven (R-Kurven) für vier verschiedene Siliciumnitridkeramiken gemessen. Die R-Kurven zeigen einen sehr steilen Anstieg und erreichen nahezu den Plateauwert in 10 bis 20µm Rissverlängerung. Aus den R-Kurven wurden mit Hilfe der Gewichtsfunktion die jeweiligen Brückenspannungsverteilungen berechnet. Des Weiteren wurde ein neuer Ansatz zur Beschreibung der Verstärkungsmechanismen in Siliciumnitridkeramiken herausgearbeitet.
| Autor: | Fünfschilling, Stefan |
|---|---|
| EAN: | 9783866444706 |
| Sprache: | Deutsch |
| Seitenzahl: | 108 |
| Produktart: | kartoniert, broschiert |
| Verlag: | KIT Scientific Publishing |
| Veröffentlichungsdatum: | 01.04.2010 |
| Untertitel: | Dissertationsschrift |
| Schlagworte: | Siliciumverbindungen Technische Keramik |
| Größe: | 148 × 210 |
| Gewicht: | 200 g |
