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Lifetime Spectroscopy

Stefan Rein
Autor: Rein, Stefan
EAN: 9783642064531
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 520
Produktart: kartoniert, broschiert
Verlag: Springer-Verlag GmbH Springer Berlin Heidelberg
Veröffentlichungsdatum: 19.10.2010
Untertitel: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Größe: 32 × 155 × 235
Gewicht: 874 g

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